نتائج البحث - "Stuck-at fault."

  • يعرض 1 - 7 نتائج من 7
تنقيح النتائج
  1. 1

    A framework for testing special-purpose memories. حسب Sidorowicz, P.R

    مقال


    صورة الغلاف
  2. 2

    Improving the stuck-at fault coverage of functional test sequences by using limited-scan operations. حسب Pomeranz, I.

    الحاوية / القاعدة IEEE Transactions on VLSI systems
    مقال


    صورة الغلاف
  3. 3

    Fault isolation for nonisolated blocks. حسب Pomeranz, I.

    الحاوية / القاعدة IEEE Transactions on VLSI systems
    مقال


    صورة الغلاف
  4. 4

    Fault isolation for nonisolated blocks. حسب Pomeranz, I.

    الحاوية / القاعدة IEEE Transactions on VLSI systems
    مقال


    صورة الغلاف
  5. 5

    Diagnosis of single stuck-at faults and multiple timing faults in scan chains. حسب Chien-Mo Li, J.

    الحاوية / القاعدة IEEE Transactions on VLSI systems
    مقال


    صورة الغلاف
  6. 6

    Test pattern generation and partial-scan methodology for an asynchronous SoC interconnect. حسب Efthymiou, A.

    الحاوية / القاعدة IEEE Transactions on VLSI systems
    مقال


    صورة الغلاف
  7. 7

    Automatic test pattern generation for functional register-transfer level circuits using assignment decision diagrams. حسب Ghosh, I.

    مقال


    صورة الغلاف

أدوات البحث: