Résultats de la recherche - "Stuck-at fault."

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  1. 1

    A framework for testing special-purpose memories. par Sidorowicz, P.R

    Article


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  2. 2

    Improving the stuck-at fault coverage of functional test sequences by using limited-scan operations. par Pomeranz, I.

    Article


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  3. 3

    Fault isolation for nonisolated blocks. par Pomeranz, I.

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  4. 4

    Fault isolation for nonisolated blocks. par Pomeranz, I.

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  5. 5

    Diagnosis of single stuck-at faults and multiple timing faults in scan chains. par Chien-Mo Li, J.

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  6. 6

    Test pattern generation and partial-scan methodology for an asynchronous SoC interconnect. par Efthymiou, A.

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  7. 7

    Automatic test pattern generation for functional register-transfer level circuits using assignment decision diagrams. par Ghosh, I.

    Article


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