يعرض 1 - 1 نتائج من 1 نتيجة بحث عن '"Scan based testing."', وقت الاستعلام: 0.02s تنقيح النتائج
  1. 1

    Low-power scan design using first-level supply gating. حسب Bhunia, S.

    الحاوية / القاعدة IEEE Transactions on VLSI systems
    مقال

    Low-power scan design using first-level supply gating.

أدوات البحث: