Resultados de búsqueda - "Primary inputs."

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  1. 1

    Timing driven gate duplication. por Srivastava, A.

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  2. 2

    Handling the pin overhead problem of DFTs for high-quality and at-speed tests. por Dong Xiang

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  3. 3

    On the use of random limited-scan to improve at-speed random pattern testing of scan circuits. por Pomeranz, I.

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