खोज परिणाम - "Primary inputs."

  • प्रदर्शित 1 - 3 परिणाम 3
परिणाम को परिष्कृत करें
  1. 1

    Timing driven gate duplication. द्वारा Srivastava, A.

    में प्रकाशित IEEE Transactions on VLSI systems
    लेख


    कवर छवि
  2. 2

    Handling the pin overhead problem of DFTs for high-quality and at-speed tests. द्वारा Dong Xiang

    लेख


    कवर छवि
  3. 3

    On the use of random limited-scan to improve at-speed random pattern testing of scan circuits. द्वारा Pomeranz, I.

    लेख


    कवर छवि

खोज साधन: