Výsledky vyhledávání - "Parasitic effects."

  • Zobrazuji výsledky 1 - 2 z 2
Upřesnit hledání
  1. 1

    Study of trapping phenomenon in 4H-SiC MESFETs dependence on substrate purity. Autor Sghaier, N.

    Článek


    Obálka
  2. 2

    A 1.5-V 14-bit 100-MS Autor Yonghua Cong

    Článek


    Obálka

Vyhledávací nástroje: