Résultats de la recherche - "Metal oxide semiconductors, Complementary Testing"

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  1. 1

    Microelectronic test structures for CMOS technology par Bhushan, Manjul

    Publié 2011
    Available for University of the Philippines Diliman via SpringerLink. Click here to access
    Electronic Resource


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  2. 2

    A design methodology for implementing RF CMOS low noise amplifiers in a 0.25 uM CMOS process par Gusad-De Leon, Maria Theresa

    Also available online for University of the Philippines Diliman. Click here
    Article


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  3. 3

    Bridging faults and IDDQ testing

    Publié 1992
    Livre


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