نتائج البحث - "Low electron trap density."

  • يعرض 1 - 1 نتائج من 1
تنقيح النتائج
  1. 1

    Study of trapping phenomenon in 4H-SiC MESFETs dependence on substrate purity. حسب Sghaier, N.

    الحاوية / القاعدة IEEE Transactions on electron devices
    مقال


    صورة الغلاف

أدوات البحث: