نتائج البحث - "Level-sensitive scan devices."

  • يعرض 1 - 1 نتائج من 1
تنقيح النتائج
  1. 1

    Test pattern generation and partial-scan methodology for an asynchronous SoC interconnect. حسب Efthymiou, A.

    الحاوية / القاعدة IEEE Transactions on VLSI systems
    مقال


    صورة الغلاف

أدوات البحث: