Zobrazuji výsledky 1 - 2 z 2 pro vyhledávání '"Integrated circuits Very large scale integration Reliability."', doba hledání: 0,02 s. Upřesnit hledání
  1. 1

    Soft error reliability of VLSI circuits analysis and mitigation techniques Autor Ghavami, Behnam, Raji, Mohsen

    Vydáno 2021
    Also available remotely for the University of the Philippines System via SpringerLink. Click here to acess thru EZproxy
    Available for University of the Philippines System via SpringerLink. Click here to access
    Electronic Resource

    Soft error reliability of VLSI circuits analysis and mitigation techniques
  2. 2

    Manufacturing yield evaluation of VLSI/WSI systems

    Vydáno 1995
    Kniha

    Manufacturing yield evaluation of VLSI/WSI systems

Vyhledávací nástroje: