Εμφανίζονται 1 - 2 Αποτελέσματα από 2 για την αναζήτηση '"Integrated circuits Very large scale integration Reliability."', χρόνος αναζήτησης: 0,02δλ Περιορισμός αποτελεσμάτων
  1. 1

    Soft error reliability of VLSI circuits analysis and mitigation techniques ανά Ghavami, Behnam, Raji, Mohsen

    Έκδοση 2021
    Also available remotely for the University of the Philippines System via SpringerLink. Click here to acess thru EZproxy
    Available for University of the Philippines System via SpringerLink. Click here to access
    Electronic Resource

    Soft error reliability of VLSI circuits analysis and mitigation techniques
  2. 2

    Manufacturing yield evaluation of VLSI/WSI systems

    Έκδοση 1995
    Βιβλίο

    Manufacturing yield evaluation of VLSI/WSI systems

Εργαλεία αναζήτησης: