Zobrazuji výsledky 21 - 23 z 23 pro vyhledávání '"Integrated circuits Testing."', doba hledání: 0,02 s. Upřesnit hledání
  1. 21

    POMR a power-aware interconnect optimization methodology. Autor Youssef, A.

    Článek

    POMR a power-aware interconnect optimization methodology.
  2. 22

    Design of a 3-D fully depleted SOI computational RAM. Autor Koob, J.C

    Článek

    Design of a 3-D fully depleted SOI computational RAM.
  3. 23

    Design of wireless on-wafer submicron characterization system. Autor Moore, B.

    Článek

    Design of wireless on-wafer submicron characterization system.

Vyhledávací nástroje: