অনুসন্ধান ফলাফলগুলি - "Integrated circuit testing."

ফলাফল পরিমার্জন করুন
  1. 21

    Design of a 3-D fully depleted SOI computational RAM. অনুযায়ী Koob, J.C

    প্রকাশিত IEEE Transactions on VLSI systems
    প্রবন্ধ


    প্রচ্ছদ
  2. 22

    Nine-coded compression technique for testing embedded cores in SoCs. অনুযায়ী Tehranipoor, M.

    প্রকাশিত IEEE Transactions on VLSI systems
    প্রবন্ধ


    প্রচ্ছদ
  3. 23

    Design of wireless on-wafer submicron characterization system. অনুযায়ী Moore, B.

    প্রকাশিত IEEE Transactions on VLSI systems
    প্রবন্ধ


    প্রচ্ছদ

অনুসন্ধান সাধনীগুলি: