প্রদর্শন 1 - 1 ফলাফল এর 1 অনুসন্ধানের জন্য '"Functional error."', জিজ্ঞাসা করার সময়: 0.02সেকেন্ড ফলাফল পরিমার্জন করুন
  1. 1

    Double sampling data checking technique an online testing solution for multisource noise-induced errors on on-chip interconnects and buses. অনুযায়ী Yi Zhao

    প্রকাশিত IEEE Transactions on VLSI systems
    প্রবন্ধ

    Double sampling data checking technique an online testing solution for multisource noise-induced errors on on-chip interconnects and buses.

অনুসন্ধান সাধনীগুলি: