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New signal readout method for ultrahigh-sensitivity CMOS image sensor.
Por
Watabe, T.
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Dark current reduction in stacked-type CMOS-APS for charged particle imaging.
Por
Takayanagi, I.
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Total dose and displacement damage effects in a radiation-hardened CMOS APS.
Por
Bogaerts, J.
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Transversal-readout architecture for CMOS active pixel image sensors.
Por
Miyatake, S.
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IEEE Transactions on electron devices
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Modeling of the bulk versus SOI CMOS performances for the optimal design of APS circuits in low-power low-voltage applications.
Por
Afzalian, A.
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IEEE Transactions on electron devices
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Diliman
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College of Engineering Library II
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RESOURCE TYPE
Artigo
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AUTHOR
Afzalian, A.
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Bogaerts, J.
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Miyatake, S.
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Takayanagi, I.
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Watabe, T.
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English
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