खोज परिणाम - "Fixed pattern noise."

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  1. 1

    New signal readout method for ultrahigh-sensitivity CMOS image sensor. द्वारा Watabe, T.

    में प्रकाशित IEEE Transactions on electron devices
    लेख


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  2. 2

    Dark current reduction in stacked-type CMOS-APS for charged particle imaging. द्वारा Takayanagi, I.

    में प्रकाशित IEEE Transactions on electron devices
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  3. 3

    Total dose and displacement damage effects in a radiation-hardened CMOS APS. द्वारा Bogaerts, J.

    में प्रकाशित IEEE Transactions on electron devices
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  4. 4

    Transversal-readout architecture for CMOS active pixel image sensors. द्वारा Miyatake, S.

    में प्रकाशित IEEE Transactions on electron devices
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  5. 5

    Modeling of the bulk versus SOI CMOS performances for the optimal design of APS circuits in low-power low-voltage applications. द्वारा Afzalian, A.

    में प्रकाशित IEEE Transactions on electron devices
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