Resultados de búsqueda - "Fault testability."

  • Mostrando 1 - 2 Resultados de 2
Limitar resultados
  1. 1

    Design-for-testability and fault-tolerant techniques for FFT processors. por Shyue-Kung Lu

    Artículo


    Imagen de Portada
  2. 2

    Design of a 1.7-GHz low-power delay-fault-testable 32-b ALU in 180-nm CMOS technology. por Chatterjee, B.

    Artículo


    Imagen de Portada

Herramientas de búsqueda: