Αποτελέσματα αναζήτησης - "Fault coverage."

  • Εμφανίζονται 1 - 10 Αποτελέσματα από 10
Περιορισμός αποτελεσμάτων
  1. 1

    Exact path delay fault coverage with fundamental ZBDD operations. από Padmanaban, S.

    Άρθρο


    Εξώφυλλο
  2. 2

    Improving the stuck-at fault coverage of functional test sequences by using limited-scan operations. από Pomeranz, I.

    Εκδόθηκε σε IEEE Transactions on VLSI systems
    Άρθρο


    Εξώφυλλο
  3. 3

    Partial BIST insertion to eliminate data correlation. από Qiushuang Zhang

    Άρθρο


    Εξώφυλλο
  4. 4

    Implicit deductive fault simulation for complex delay fault models. από Deodhar, J.V

    Εκδόθηκε σε IEEE Transactions on VLSI systems
    Άρθρο


    Εξώφυλλο
  5. 5

    Design of hierarchical cellular automata for on-chip test pattern generator. από Sikdar, B.K

    Άρθρο


    Εξώφυλλο
  6. 6

    Path delay fault diagnosis and coverage-a metric and an estimation technique. από Sivaraman, M.

    Άρθρο


    Εξώφυλλο
  7. 7

    On the use of random limited-scan to improve at-speed random pattern testing of scan circuits. από Pomeranz, I.

    Άρθρο


    Εξώφυλλο
  8. 8

    Weighted pseudorandom hybrid BIST. από Jas, A.

    Εκδόθηκε σε IEEE Transactions on VLSI systems
    Άρθρο


    Εξώφυλλο
  9. 9

    Software-based self-testing methodology for processor cores. από Li Chen

    Άρθρο


    Εξώφυλλο
  10. 10

    Automatic test pattern generation for functional register-transfer level circuits using assignment decision diagrams. από Ghosh, I.

    Άρθρο


    Εξώφυλλο

Εργαλεία αναζήτησης: