Rezultaty
1 - 7
Rezultaty od
7
Dla wyszukiwania '
"Failure mechanism."
'
Przejdź do treści
UPFind
Lista podręczna:
0
w liście podręcznej
(Pełny)
Język
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Wszystkie pola
Tytuł
Autor
Hasło przedmiotowe
Sygnatura
ISBN / ISSN
Szukaj
Wyszukiwanie zaawansowane
Rezultaty - "Failure mechanism."
Rezultaty
1 - 7
Rezultaty od
7
Dla wyszukiwania '
"Failure mechanism."
'
, Czas wyszukiwania: 0,02s
Redukuj rezultaty
Sortuj
Ważność
Newest to Oldest
Oldest to Newest
Autor
Tytuł
Select Page
Email
Eksport
Drukuj
Dodaj do listy podręcznej
Wybierz numer wyniku 1
1
Seismic behaviour of multistorey RC wall-frame system versus bare ductile frame system.
od
Lu, Young
Wydane w
Earthquake engineering & structural dynamics.
Sygnatura:
loading...
Zlokalizowane:
loading...
Artykuł
loading...
Dodaj do listy podręcznej
Usuń z listy podręcznej
Wybierz numer wyniku 2
2
Hot-hole-induced dielectric breakdown in LDMOS transistors.
od
Labate, L.
Wydane w
IEEE Transactions on electron devices
Sygnatura:
loading...
Zlokalizowane:
loading...
Artykuł
loading...
Dodaj do listy podręcznej
Usuń z listy podręcznej
Wybierz numer wyniku 3
3
A process-tolerant cache architecture for improved yield in nanoscale technologies.
od
Agarwal, A.
Wydane w
IEEE Transactions on VLSI systems
Sygnatura:
loading...
Zlokalizowane:
loading...
Artykuł
loading...
Dodaj do listy podręcznej
Usuń z listy podręcznej
Wybierz numer wyniku 4
4
In-plane strength of unreinforced masonry piers.
od
Calderini, Chiara
Wydane w
Earthquake engineering & structural dynamics.
Sygnatura:
loading...
Zlokalizowane:
loading...
Artykuł
loading...
Dodaj do listy podręcznej
Usuń z listy podręcznej
Wybierz numer wyniku 5
5
Effect of process failure mechanisms on economic x control charts
od
Moskowitz, Herbert
Wydane w
IIE transactions: industrial engineering research and development
Sygnatura:
loading...
Zlokalizowane:
loading...
Artykuł
loading...
Dodaj do listy podręcznej
Usuń z listy podręcznej
Wybierz numer wyniku 6
6
Efficient testing of SRAM with optimized march sequences and a novel DFT technique for emerging failures due to process variations.
od
Qikai Chen
Wydane w
IEEE Transactions on VLSI systems
Sygnatura:
loading...
Zlokalizowane:
loading...
Artykuł
loading...
Dodaj do listy podręcznej
Usuń z listy podręcznej
Wybierz numer wyniku 7
7
Chip-level charged-device modeling and simulation in CMOS integrated circuits.
od
Jaesik Lee
Wydane w
IEEE Transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems
Sygnatura:
loading...
Zlokalizowane:
loading...
Artykuł
loading...
Dodaj do listy podręcznej
Usuń z listy podręcznej
Select Page
Email
Eksport
Drukuj
Dodaj do listy podręcznej
Narzędzie wyszukiwania:
Wyślij rezultaty emailem
z powrotem
Redukuj rezultaty
Page will reload when a filter is selected or excluded.
DATABASE
Union Catalog (Buklod)
7 Rezultatów
7
AUTHOR
Agarwal, A.
1 Rezultatów
1
Calderini, Chiara
1 Rezultatów
1
Jaesik Lee
1 Rezultatów
1
Labate, L.
1 Rezultatów
1
Lu, Young
1 Rezultatów
1
Moskowitz, Herbert
1 Rezultatów
1
Plante, Robert
1 Rezultatów
1
Qikai Chen
1 Rezultatów
1
Young Hak Chin
1 Rezultatów
1
Zobacz wszystkie…
RESOURCE TYPE
Artykuł
7 Rezultatów
7
LANGUAGE
English
7 Rezultatów
7
TUKLAS
: UP Libraries' Resource Discovery Tool
Copyright © 2020-2021. The University Library, University of the Philippines Diliman