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  1. 1

    Testing the monster chip. di Zorian, Y.

    Pubblicato in IEEE spectrum
    Articolo

    Testing the monster chip.
  2. 2

    Weighted pseudorandom hybrid BIST. di Jas, A.

    Articolo

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  3. 3

    Test data compression technique for embedded cores using virtual scan chains. di Jas, A.

    Articolo

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