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Test economics and design for testability for electronic circuits and systems
Publicado em 1995
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McGraw-Hill circuit encyclopedia and troubleshooting guide
por
Lenk, John D.
Publicado em 1993
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Testability of electronic circuits
por
Weyerer, Manfred
Publicado em 1992
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The Test access port and boundary scan architecture
Publicado em 1990
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College of Engineering Library II
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De:
Até:
CLASSIFICATION
T - Tecnologia
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SUBJECT
Electronic circuits
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Testing
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Electronic circuit design
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Electronic circuits - Testing
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AUTHOR
Dislis, C. (Chryssa)
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Goldemund, Gerald
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Lenk, John D.
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Weyerer, Manfred
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