نتائج البحث - "Design-for-test scheme."

  • يعرض 1 - 1 نتائج من 1
تنقيح النتائج
  1. 1

    Design of a 1.7-GHz low-power delay-fault-testable 32-b ALU in 180-nm CMOS technology. حسب Chatterjee, B.

    الحاوية / القاعدة IEEE Transactions on VLSI systems
    مقال


    صورة الغلاف

أدوات البحث: