Εμφανίζονται 1 - 2 Αποτελέσματα από 2 για την αναζήτηση '"Concurrent testing."', χρόνος αναζήτησης: 0,01δλ Περιορισμός αποτελεσμάτων
  1. 1

    Design of concurrent test Hardware for Linear analog circuits with constrained hardware overhead. ανά Ozev, S.

    Τόπος έκδοσης IEEE Transactions on VLSI systems
    Άρθρο

    Design of concurrent test Hardware for Linear analog circuits with constrained hardware overhead.
  2. 2

    Modular and rapid testing of SOCs with unwrapped logic blocks. ανά Qiang Xu

    Τόπος έκδοσης IEEE Transactions on VLSI systems
    Άρθρο

    Modular and rapid testing of SOCs with unwrapped logic blocks.

Εργαλεία αναζήτησης: