Visas 1 - 1 av 1 resultat för sökning '"Complete test set."', Sökningstid: 0,02s Förfina resultatet
  1. 1

    On the use of random limited-scan to improve at-speed random pattern testing of scan circuits. av Pomeranz, I.

    Artikel

    On the use of random limited-scan to improve at-speed random pattern testing of scan circuits.

Sökverktyg: