প্রদর্শন 2,321 - 2,330 ফলাফল এর 2,340 অনুসন্ধানের জন্য '"Circuit."', জিজ্ঞাসা করার সময়: 0.02সেকেন্ড ফলাফল পরিমার্জন করুন
  1. 2321

    Linearization of the timing analysis and optimization of level-sensitive digital synchronous circuits. অনুযায়ী Taskin, B.

    প্রকাশিত IEEE Transactions on VLSI systems
    প্রবন্ধ

    Linearization of the timing analysis and optimization of level-sensitive digital synchronous circuits.
  2. 2322

    A game theoretic approach for power optimization during behavioral synthesis. অনুযায়ী Murugavel, A.K

    প্রকাশিত IEEE Transactions on VLSI systems
    প্রবন্ধ

    A game theoretic approach for power optimization during behavioral synthesis.
  3. 2323

    Equivalent-circuit interconnect modeling based on the fifth-order differential quadrature methods. অনুযায়ী Qinwei Xu

    প্রকাশিত IEEE Transactions on VLSI systems
    প্রবন্ধ

    Equivalent-circuit interconnect modeling based on the fifth-order differential quadrature methods.
  4. 2324

    Domino logic with variable threshold voltage keeper. অনুযায়ী Kursun, V.

    প্রকাশিত IEEE Transactions on VLSI systems
    প্রবন্ধ

    Domino logic with variable threshold voltage keeper.
  5. 2325

    An asynchronous ternary logic signaling system. অনুযায়ী Felicijan, T.

    প্রকাশিত IEEE Transactions on VLSI systems
    প্রবন্ধ

    An asynchronous ternary logic signaling system.
  6. 2326

    Update Carbon-Nanotube Wiring Gets Real. অনুযায়ী Patel-Predd, P.

    প্রকাশিত IEEE spectrum
    প্রবন্ধ

    Update Carbon-Nanotube Wiring Gets Real.
  7. 2327

    Circuits and architectures for field programmable gate array with configurable supply voltage. অনুযায়ী Lin, Y.

    প্রকাশিত IEEE Transactions on VLSI systems
    প্রবন্ধ

    Circuits and architectures for field programmable gate array with configurable supply voltage.
  8. 2328

    Equivalent circuit model of on-wafer CMOS interconnects for RFICs. অনুযায়ী Xiaomeng Shi

    প্রকাশিত IEEE Transactions on VLSI systems
    প্রবন্ধ

    Equivalent circuit model of on-wafer CMOS interconnects for RFICs.
  9. 2329

    Accumulator-based test generation for robust sequential fault testing in DSP cores in near-optimal time. অনুযায়ী Voyiatzis, I.

    প্রকাশিত IEEE Transactions on VLSI systems
    প্রবন্ধ

    Accumulator-based test generation for robust sequential fault testing in DSP cores in near-optimal time.
  10. 2330

    Autoscan a scan design without external scan inputs or outputs. অনুযায়ী Pomeranz, I.

    প্রকাশিত IEEE Transactions on VLSI systems
    প্রবন্ধ

    Autoscan a scan design without external scan inputs or outputs.

অনুসন্ধান সাধনীগুলি: