প্রদর্শন 2,201 - 2,210 ফলাফল এর 2,340 অনুসন্ধানের জন্য '"Circuit."', জিজ্ঞাসা করার সময়: 0.02সেকেন্ড ফলাফল পরিমার্জন করুন
  1. 2201

    The Hunt For The Kill Switch. অনুযায়ী Adee, S.

    প্রকাশিত IEEE spectrum
    প্রবন্ধ

    The Hunt For The Kill Switch.
  2. 2202

    Fast comparisons of circuit implementations. অনুযায়ী Karandikar, S.K

    প্রকাশিত IEEE Transactions on VLSI systems
    প্রবন্ধ

    Fast comparisons of circuit implementations.
  3. 2203

    Wire retiming as fixpoint computation. অনুযায়ী Chuan Lin

    প্রকাশিত IEEE Transactions on VLSI systems
    প্রবন্ধ

    Wire retiming as fixpoint computation.
  4. 2204

    Gate oxide leakage and delay tradeoffs for dual-Tox circuits. অনুযায়ী Sultania, A.K

    প্রকাশিত IEEE Transactions on VLSI systems
    প্রবন্ধ

    Gate oxide leakage and delay tradeoffs for dual-Tox circuits.
  5. 2205

    Bus encoding for total power reduction using a leakage-aware buffer configuration. অনুযায়ী Rao, R.R

    প্রকাশিত IEEE Transactions on VLSI systems
    প্রবন্ধ

    Bus encoding for total power reduction using a leakage-aware buffer configuration.
  6. 2206

    Test pattern generation and partial-scan methodology for an asynchronous SoC interconnect. অনুযায়ী Efthymiou, A.

    প্রকাশিত IEEE Transactions on VLSI systems
    প্রবন্ধ

    Test pattern generation and partial-scan methodology for an asynchronous SoC interconnect.
  7. 2207

    The limit of dynamic voltage scaling and insomniac dynamic voltage scaling. অনুযায়ী Bo Zhai

    প্রকাশিত IEEE Transactions on VLSI systems
    প্রবন্ধ

    The limit of dynamic voltage scaling and insomniac dynamic voltage scaling.
  8. 2208

    A novel high-speed sense-amplifier-based flip-flop. অনুযায়ী Strollo, A.G.M

    প্রকাশিত IEEE Transactions on VLSI systems
    প্রবন্ধ

    A novel high-speed sense-amplifier-based flip-flop.
  9. 2209

    Efficient testing of SRAM with optimized march sequences and a novel DFT technique for emerging failures due to process variations. অনুযায়ী Qikai Chen

    প্রকাশিত IEEE Transactions on VLSI systems
    প্রবন্ধ

    Efficient testing of SRAM with optimized march sequences and a novel DFT technique for emerging failures due to process variations.
  10. 2210

    Design of a 1.7-GHz low-power delay-fault-testable 32-b ALU in 180-nm CMOS technology. অনুযায়ী Chatterjee, B.

    প্রকাশিত IEEE Transactions on VLSI systems
    প্রবন্ধ

    Design of a 1.7-GHz low-power delay-fault-testable 32-b ALU in 180-nm CMOS technology.

অনুসন্ধান সাধনীগুলি: