نتائج البحث - "Benchmark circuits."

تنقيح النتائج
  1. 1

    Diagnosis of single stuck-at faults and multiple timing faults in scan chains. حسب Chien-Mo Li, J.

    الحاوية / القاعدة IEEE Transactions on VLSI systems
    مقال


    صورة الغلاف
  2. 2

    Efficient library characterization for high-level power estimation. حسب Dhaou, I.B

    الحاوية / القاعدة IEEE Transactions on VLSI systems
    مقال


    صورة الغلاف
  3. 3

    Multimode power modeling and maximum-likelihood estimation. حسب Chandramouli, R.

    الحاوية / القاعدة IEEE Transactions on VLSI systems
    مقال


    صورة الغلاف
  4. 4

    On metrics for comparing interconnect estimation methods for FPGAs. حسب Kannan, P.

    الحاوية / القاعدة IEEE Transactions on VLSI systems
    مقال


    صورة الغلاف
  5. 5

    High performance level conversion for dual VDD design. حسب Kulkarni, S.H

    الحاوية / القاعدة IEEE Transactions on VLSI systems
    مقال


    صورة الغلاف
  6. 6

    Pattern generation for delay testing and dynamic timing analysis considering power-supply noise effects. حسب Krstic, A.

    مقال


    صورة الغلاف
  7. 7

    LECTOR a technique for leakage reduction in CMOS circuits. حسب Hanchate, N.

    الحاوية / القاعدة IEEE Transactions on VLSI systems
    مقال


    صورة الغلاف
  8. 8

    Path delay fault diagnosis and coverage-a metric and an estimation technique. حسب Sivaraman, M.

    مقال


    صورة الغلاف
  9. 9

    Gate oxide leakage current analysis and reduction for VLSI circuits. حسب Dongwoo Lee

    الحاوية / القاعدة IEEE Transactions on VLSI systems
    مقال


    صورة الغلاف
  10. 10

    Efficient algorithms for multilevel power estimation of VLSI circuits. حسب Bachmann, W.W

    الحاوية / القاعدة IEEE Transactions on VLSI systems
    مقال


    صورة الغلاف

أدوات البحث: