खोज परिणाम - "Benchmark circuits."

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  1. 1

    Diagnosis of single stuck-at faults and multiple timing faults in scan chains. द्वारा Chien-Mo Li, J.

    में प्रकाशित IEEE Transactions on VLSI systems
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  2. 2

    Efficient library characterization for high-level power estimation. द्वारा Dhaou, I.B

    में प्रकाशित IEEE Transactions on VLSI systems
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  3. 3

    Multimode power modeling and maximum-likelihood estimation. द्वारा Chandramouli, R.

    में प्रकाशित IEEE Transactions on VLSI systems
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  4. 4

    On metrics for comparing interconnect estimation methods for FPGAs. द्वारा Kannan, P.

    में प्रकाशित IEEE Transactions on VLSI systems
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  5. 5

    High performance level conversion for dual VDD design. द्वारा Kulkarni, S.H

    में प्रकाशित IEEE Transactions on VLSI systems
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  6. 6

    Pattern generation for delay testing and dynamic timing analysis considering power-supply noise effects. द्वारा Krstic, A.

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  7. 7

    LECTOR a technique for leakage reduction in CMOS circuits. द्वारा Hanchate, N.

    में प्रकाशित IEEE Transactions on VLSI systems
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  8. 8

    Path delay fault diagnosis and coverage-a metric and an estimation technique. द्वारा Sivaraman, M.

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  9. 9

    Gate oxide leakage current analysis and reduction for VLSI circuits. द्वारा Dongwoo Lee

    में प्रकाशित IEEE Transactions on VLSI systems
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  10. 10

    Efficient algorithms for multilevel power estimation of VLSI circuits. द्वारा Bachmann, W.W

    में प्रकाशित IEEE Transactions on VLSI systems
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