Αποτελέσματα αναζήτησης - "Barrel shifter."

  • Εμφανίζονται 1 - 1 Αποτελέσματα από 1
Περιορισμός αποτελεσμάτων
  1. 1

    Accumulator-based test generation for robust sequential fault testing in DSP cores in near-optimal time. από Voyiatzis, I.

    Εκδόθηκε σε IEEE Transactions on VLSI systems
    Άρθρο


    Εξώφυλλο

Εργαλεία αναζήτησης: