Đang hiển thị 1 - 5 kết quả của 5 cho tìm kiếm '"Automatic test pattern generation."', thời gian truy vấn: 0.02s Tinh chỉnh kết quả
  1. 1

    Testing big chips becomes an internal affair. Bằng Runyon, S.

    Xuất bản năm IEEE spectrum
    Bài viết

    Testing big chips becomes an internal affair.
  2. 2

    Diagnosis of single stuck-at faults and multiple timing faults in scan chains. Bằng Chien-Mo Li, J.

    Bài viết

    Diagnosis of single stuck-at faults and multiple timing faults in scan chains.
  3. 3

    Function-based compact test pattern generation for path delay faults. Bằng Michael, M.K

    Bài viết

    Function-based compact test pattern generation for path delay faults.
  4. 4

    On the nonenumerative path delay fault simulation problem. Bằng Kagaris, D.

    Bài viết

    On the nonenumerative path delay fault simulation problem.
  5. 5

    Automatic test pattern generation for functional register-transfer level circuits using assignment decision diagrams. Bằng Ghosh, I.

    Bài viết

    Automatic test pattern generation for functional register-transfer level circuits using assignment decision diagrams.

Công cụ tìm kiếm: