Showing
1 - 5
results of
5
for search '
"Automatic test pattern generation."
'
Saltar ao contenido
UPFind
Bolsa de Libros:
0
registros
(Completo)
Idioma
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Todos os campos
Title
Autor
Subject
Número de Clasificación
ISBN/ISSN
Buscar
Avanzado
Resultados de procura - "Automatic test pattern generation."
Showing
1 - 5
results of
5
for search '
"Automatic test pattern generation."
'
, tempo de consulta: 0.02s
Limitar resultados
Ordenar
Relevancia
Newest to Oldest
Oldest to Newest
Autor
Título
Select Page
Correo Electrónico
Exportar
Imprimir
Engadir á cesta
Select result number 1
1
Testing big chips becomes an internal affair.
por
Runyon, S.
Publicado en
IEEE spectrum
Número de Clasificación:
loading...
Situado:
loading...
Artigo
loading...
Engadir á cesta
Eliminar da cesta
Select result number 2
2
Diagnosis of single stuck-at faults and multiple timing faults in scan chains.
por
Chien-Mo Li, J.
Publicado en
IEEE Transactions on VLSI systems
Número de Clasificación:
loading...
Situado:
loading...
Artigo
loading...
Engadir á cesta
Eliminar da cesta
Select result number 3
3
Function-based compact test pattern generation for path delay faults.
por
Michael, M.K
Publicado en
IEEE Transactions on VLSI systems
Número de Clasificación:
loading...
Situado:
loading...
Artigo
loading...
Engadir á cesta
Eliminar da cesta
Select result number 4
4
On the nonenumerative path delay fault simulation problem.
por
Kagaris, D.
Publicado en
IEEE Transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems
Número de Clasificación:
loading...
Situado:
loading...
Artigo
loading...
Engadir á cesta
Eliminar da cesta
Select result number 5
5
Automatic test pattern generation for functional register-transfer level circuits using assignment decision diagrams.
por
Ghosh, I.
Publicado en
IEEE Transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems
Número de Clasificación:
loading...
Situado:
loading...
Artigo
loading...
Engadir á cesta
Eliminar da cesta
Select Page
Correo Electrónico
Exportar
Imprimir
Engadir á cesta
Ferramentas de procura:
Enviar por correo electrónico esta procura
Atrás
Limitar resultados
Page will reload when a filter is selected or excluded.
DATABASE
Union Catalog (Buklod)
5 results
5
AUTHOR
Chien-Mo Li, J.
1 results
1
Ghosh, I.
1 results
1
Kagaris, D.
1 results
1
Michael, M.K
1 results
1
Runyon, S.
1 results
1
RESOURCE TYPE
Artigo
5 results
5
LANGUAGE
English
5 results
5
TUKLAS
: UP Libraries' Resource Discovery Tool
Copyright © 2020-2021. The University Library, University of the Philippines Diliman