Результаты поиска - "Arrhenius."

  • Отображение 1 - 2 результаты of 2
Отмена результатов
  1. 1

    Parametric and kinetic study of silicon nitride film deposition on silicon wafer by low pressure chemical vapor deposition (LPCVD) method по Velasco, Angelito A.

    Опубликовано 2002
    Диссертация


    Значок книги
  2. 2

    More pitfalls of accelerated tests. по Meeker, William Q.

    Опубликовано в: Journal of Quality Technology
    Статья


    Значок книги

Инструменты поиска: