Rezultati pretrage - "Accumulator-based test generation."

  • Prikaz rezultata 1 – 1 od 1
Detaljiziraj rezultate
  1. 1

    Accumulator-based test generation for robust sequential fault testing in DSP cores in near-optimal time. od Voyiatzis, I.

    Članak


    Slika omota

Alati za pretragu: