Torthaí cuardaigh - "0.18 micron."

Beachtaigh na torthaí
  1. 1

    Reducing Measurement Uncertainty in a DSP-Based Mixed-Signal Test Environment Without Increasing Test Time. de réir Taillefer, C.S

    Alt


    Íomhá chlúdaigh
  2. 2

    Equivalent circuit model of on-wafer CMOS interconnects for RFICs. de réir Xiaomeng Shi

    Alt


    Íomhá chlúdaigh
  3. 3

    A new MMIC sampling phase detector design for space applications. de réir Desgrez, S.

    Alt


    Íomhá chlúdaigh
  4. 4

    A hardware-efficient technique to implement a trellis code modulation decoder. de réir Dinh, A.

    Alt


    Íomhá chlúdaigh
  5. 5

    A 1 Tb de réir Miura, N.

    Alt


    Íomhá chlúdaigh
  6. 6

    A 15-mW fully integrated I de réir Leenaerts, D.M.W

    Alt


    Íomhá chlúdaigh
  7. 7

    MOS current mode circuits analysis, design, and variability. de réir Hassan, H.

    Alt


    Íomhá chlúdaigh
  8. 8

    Utilizing the effect of relative delay on energy dissipation in low-power on-chip buses. de réir Ghoneima, M.

    Alt


    Íomhá chlúdaigh
  9. 9

    A self-tuning DVS processor using delay-error detection and correction. de réir Das, S.

    Alt


    Íomhá chlúdaigh
  10. 10

    A slew-rate controlled output driver using PLL as compensation circuit. de réir Soon-Kyun Shin

    Alt


    Íomhá chlúdaigh

Uirlisí cuardaigh: