Kết quả tìm kiếm - "Test patterns generation."

  • Đang hiển thị 1 - 10 kết quả của 10
Tinh chỉnh kết quả
  1. 1

    Design of hierarchical cellular automata for on-chip test pattern generator. Bằng Sikdar, B.K

    Bài viết


    Ảnh bìa
  2. 2

    Accumulator-based test generation for robust sequential fault testing in DSP cores in near-optimal time. Bằng Voyiatzis, I.

    Bài viết


    Ảnh bìa
  3. 3

    Diagnosis of single stuck-at faults and multiple timing faults in scan chains. Bằng Chien-Mo Li, J.

    Bài viết


    Ảnh bìa
  4. 4

    Testing big chips becomes an internal affair. Bằng Runyon, S.

    Xuất bản năm IEEE spectrum
    Bài viết


    Ảnh bìa
  5. 5

    Function-based compact test pattern generation for path delay faults. Bằng Michael, M.K

    Bài viết


    Ảnh bìa
  6. 6

    On the nonenumerative path delay fault simulation problem. Bằng Kagaris, D.

    Bài viết


    Ảnh bìa
  7. 7

    SPIRIT a highly robust combinational test generation algorithm. Bằng Gizdarski, E.

    Bài viết


    Ảnh bìa
  8. 8

    Test pattern generation and clock disabling for simultaneous test time and power reduction. Bằng Jih-Jeen Chen

    Bài viết


    Ảnh bìa
  9. 9

    Test pattern generation and partial-scan methodology for an asynchronous SoC interconnect. Bằng Efthymiou, A.

    Bài viết


    Ảnh bìa
  10. 10

    Automatic test pattern generation for functional register-transfer level circuits using assignment decision diagrams. Bằng Ghosh, I.

    Bài viết


    Ảnh bìa

Công cụ tìm kiếm: