Đang hiển thị 1 - 3 kết quả của 3 cho tìm kiếm '"Test cost reduction."', thời gian truy vấn: 0.01s Tinh chỉnh kết quả
  1. 1

    SOC test planning using virtual test access architectures. Bằng Sehgal, A.

    Bài viết

    SOC test planning using virtual test access architectures.
  2. 2

    Weighted pseudorandom hybrid BIST. Bằng Jas, A.

    Bài viết

    Weighted pseudorandom hybrid BIST.
  3. 3

    Low-power scan design using first-level supply gating. Bằng Bhunia, S.

    Bài viết

    Low-power scan design using first-level supply gating.

Công cụ tìm kiếm: