Gösterilen
1 - 6
sonuçlar arası kayıtlar.
6
sonuç. Aranan kelime '
"Test data compression."
'
İçeriği atla
UPFind
Kitap Sepeti:
0
kayıt
(Dolu)
Dil
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Tüm Alanlar
Materyal Adı
Yazar
Konu
Yer Numarası
ISBN/ISSN
Ara
Gelişmiş
Arama Sonuçları - "Test data compression."
Gösterilen
1 - 6
sonuçlar arası kayıtlar.
6
sonuç. Aranan kelime '
"Test data compression."
'
, Sorgu süresi: 0.02s
Sonuçları Daraltın
Sırala
İlgili
Newest to Oldest
Oldest to Newest
Yazar
Materyal Adı
Select Page
Eposta
İhraç Et
Yazdır
Kitap Sepetine Ekle
1 Sonuç numarasını seç
1
A unified approach to reduce SOC test data volume, scan power and testing time.
Yazar:
Chandra, A.
Yayımlandı
IEEE Transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems
Yer Numarası:
loading...
Bulunduğu Yer:
loading...
Makale
loading...
Kitap Sepetine Ekle
Sepetten Sil
2 Sonuç numarasını seç
2
Synchronization overhead in SOC compressed test.
Yazar:
Gonciari, P.T
Yayımlandı
IEEE Transactions on VLSI systems
Yer Numarası:
loading...
Bulunduğu Yer:
loading...
Makale
loading...
Kitap Sepetine Ekle
Sepetten Sil
3 Sonuç numarasını seç
3
Weighted pseudorandom hybrid BIST.
Yazar:
Jas, A.
Yayımlandı
IEEE Transactions on VLSI systems
Yer Numarası:
loading...
Bulunduğu Yer:
loading...
Makale
loading...
Kitap Sepetine Ekle
Sepetten Sil
4 Sonuç numarasını seç
4
Test slice difference technique for low-transition test data compression.
Yazar:
Rau, Jiann-Chyi
Yayımlandı
Journal of Applied Science and Engineering
Yer Numarası:
loading...
Bulunduğu Yer:
loading...
Makale
loading...
Kitap Sepetine Ekle
Sepetten Sil
5 Sonuç numarasını seç
5
Nine-coded compression technique for testing embedded cores in SoCs.
Yazar:
Tehranipoor, M.
Yayımlandı
IEEE Transactions on VLSI systems
Yer Numarası:
loading...
Bulunduğu Yer:
loading...
Makale
loading...
Kitap Sepetine Ekle
Sepetten Sil
6 Sonuç numarasını seç
6
Test data compression technique for embedded cores using virtual scan chains.
Yazar:
Jas, A.
Yayımlandı
IEEE Transactions on VLSI systems
Yer Numarası:
loading...
Bulunduğu Yer:
loading...
Makale
loading...
Kitap Sepetine Ekle
Sepetten Sil
Select Page
Eposta
İhraç Et
Yazdır
Kitap Sepetine Ekle
Arama Araçları:
Aramayı e-posta ile gönder
Geri
Sonuçları Daraltın
Bir filtre seçildiğinde veya hariç tutulduğunda sayfa yeniden yüklenecektir.
DATABASE
Union Catalog (Buklod)
6 sonuçlar
6
AUTHOR
Jas, A.
2 sonuçlar
2
Chandra, A.
1 sonuçlar
1
Gonciari, P.T
1 sonuçlar
1
Rau, Jiann-Chyi
1 sonuçlar
1
Tehranipoor, M.
1 sonuçlar
1
RESOURCE TYPE
Makale
6 sonuçlar
6
LANGUAGE
English
6 sonuçlar
6
TUKLAS
: UP Libraries' Resource Discovery Tool
Copyright © 2020-2021. The University Library, University of the Philippines Diliman