Gösterilen 1 - 3 sonuçlar arası kayıtlar. 3 sonuç. Aranan kelime '"External testing."', Sorgu süresi: 0.02s Sonuçları Daraltın
  1. 1

    Testing the monster chip. Yazar: Zorian, Y.

    Yayımlandı IEEE spectrum
    Makale

    Testing the monster chip.
  2. 2

    Weighted pseudorandom hybrid BIST. Yazar: Jas, A.

    Makale

    Weighted pseudorandom hybrid BIST.
  3. 3

    Test data compression technique for embedded cores using virtual scan chains. Yazar: Jas, A.

    Makale

    Test data compression technique for embedded cores using virtual scan chains.

Arama Araçları: