Visas 1 - 3 av 3 resultat för sökning '"External testing."', Sökningstid: 0,02s Förfina resultatet
  1. 1

    Testing the monster chip. av Zorian, Y.

    I publikationen IEEE spectrum
    Artikel

    Testing the monster chip.
  2. 2

    Weighted pseudorandom hybrid BIST. av Jas, A.

    Artikel

    Weighted pseudorandom hybrid BIST.
  3. 3

    Test data compression technique for embedded cores using virtual scan chains. av Jas, A.

    Artikel

    Test data compression technique for embedded cores using virtual scan chains.

Sökverktyg: