Отображение 1 - 3 результаты of 3 для поиска '"Test cost reduction."', время запроса: 0.01сек. Отмена результатов
  1. 1

    SOC test planning using virtual test access architectures. по Sehgal, A.

    Опубликовано в: IEEE Transactions on VLSI systems
    Статья

    SOC test planning using virtual test access architectures.
  2. 2

    Weighted pseudorandom hybrid BIST. по Jas, A.

    Опубликовано в: IEEE Transactions on VLSI systems
    Статья

    Weighted pseudorandom hybrid BIST.
  3. 3

    Low-power scan design using first-level supply gating. по Bhunia, S.

    Опубликовано в: IEEE Transactions on VLSI systems
    Статья

    Low-power scan design using first-level supply gating.

Инструменты поиска: