Отображение 1 - 3 результаты of 3 для поиска '"External testing."', время запроса: 0.02сек. Отмена результатов
  1. 1

    Testing the monster chip. по Zorian, Y.

    Опубликовано в: IEEE spectrum
    Статья

    Testing the monster chip.
  2. 2

    Weighted pseudorandom hybrid BIST. по Jas, A.

    Опубликовано в: IEEE Transactions on VLSI systems
    Статья

    Weighted pseudorandom hybrid BIST.
  3. 3

    Test data compression technique for embedded cores using virtual scan chains. по Jas, A.

    Опубликовано в: IEEE Transactions on VLSI systems
    Статья

    Test data compression technique for embedded cores using virtual scan chains.

Инструменты поиска: