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  1. 1

    Testing the monster chip. Por Zorian, Y.

    Publicado no IEEE spectrum
    Artigo

    Testing the monster chip.
  2. 2

    Weighted pseudorandom hybrid BIST. Por Jas, A.

    Artigo

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  3. 3

    Test data compression technique for embedded cores using virtual scan chains. Por Jas, A.

    Artigo

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