Rezultaty 1 - 2 Rezultaty od 2 Dla wyszukiwania '"Synchronous sequential circuits."', Czas wyszukiwania: 0,02s Redukuj rezultaty
  1. 1

    Reverse-order-restoration-based static test compaction for synchronous sequential circuits. od Ruifeng Guo

    Artykuł

    Reverse-order-restoration-based static test compaction for synchronous sequential circuits.
  2. 2

    Autoscan a scan design without external scan inputs or outputs. od Pomeranz, I.

    Artykuł

    Autoscan a scan design without external scan inputs or outputs.

Narzędzie wyszukiwania: