Rezultaty
1 - 5
Rezultaty od
5
Dla wyszukiwania '
"Integrated circuits Reliability."
'
Przejdź do treści
UPFind
Lista podręczna:
0
w liście podręcznej
(Pełny)
Język
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Wszystkie pola
Tytuł
Autor
Hasło przedmiotowe
Sygnatura
ISBN / ISSN
Szukaj
Wyszukiwanie zaawansowane
Rezultaty - "Integrated circuits Reliability."
Rezultaty
1 - 5
Rezultaty od
5
Dla wyszukiwania '
"Integrated circuits Reliability."
'
, Czas wyszukiwania: 0,01s
Redukuj rezultaty
Sortuj
Ważność
Newest to Oldest
Oldest to Newest
Autor
Tytuł
Select Page
Email
Eksport
Drukuj
Dodaj do listy podręcznej
Wybierz numer wyniku 1
1
Design for testability, debug and reliability next generation measures using formal techniques
od
Huhn, Sebastian
,
Drechsler, Rolf
Wydane 2021
Sygnatura:
loading...
Zlokalizowane:
loading...
Dokumenty pełnotekstowe
Dokumenty pełnotekstowe
Electronic Resource
Dodaj do listy podręcznej
Usuń z listy podręcznej
Wybierz numer wyniku 2
2
Circuit design for reliability
Wydane 2015
Sygnatura:
loading...
Zlokalizowane:
loading...
Available for University of the Philippines System via SpringerLink. Click here to access
Also available remotely for University of the Philippines System via SpringerLink. Click here to access thru EZproxy
Electronic Resource
Dodaj do listy podręcznej
Usuń z listy podręcznej
Wybierz numer wyniku 3
3
Integrated circuit quality and reliability
od
Hnatek, Eugene R.
Wydane 1995
Sygnatura:
loading...
Zlokalizowane:
loading...
Książka
loading...
Dodaj do listy podręcznej
Usuń z listy podręcznej
Wybierz numer wyniku 4
4
Robust circuit and system design methodologies for nanometer-scale devices and single-electron transistors.
od
Schmid, A.
Wydane w
IEEE Transactions on VLSI systems
Sygnatura:
loading...
Zlokalizowane:
loading...
Artykuł
loading...
Dodaj do listy podręcznej
Usuń z listy podręcznej
Wybierz numer wyniku 5
5
Nondestructive and subsurface defect detection in integrated circuits using advanced microscopy and spectroscopy techniques
od
Tarun, Alvarado B.
Sygnatura:
loading...
Zlokalizowane:
loading...
Praca dyplomowa
loading...
Dodaj do listy podręcznej
Usuń z listy podręcznej
Select Page
Email
Eksport
Drukuj
Dodaj do listy podręcznej
Narzędzie wyszukiwania:
Wyślij rezultaty emailem
z powrotem
Redukuj rezultaty
Page will reload when a filter is selected or excluded.
CAMPUS
Diliman
4 Rezultatów
4
DATABASE
Union Catalog (Buklod)
5 Rezultatów
5
UNIT LIBRARY
College of Engineering Library II
3 Rezultatów
3
Diliman Main Library: University Archives
1 Rezultatów
1
YEAR OF PUBLICATION
od:
do:
CLASSIFICATION
L - Edukacja
1 Rezultatów
1
T - Technologia
1 Rezultatów
1
SUBJECT
Integrated circuits
4 Rezultatów
4
Reliability
3 Rezultatów
3
Design and construction
2 Rezultatów
2
Electronic books
2 Rezultatów
2
Debugging in computer science
1 Rezultatów
1
Testing
1 Rezultatów
1
AUTHOR
Cao, Yu (Computer scientist)
1 Rezultatów
1
Drechsler, Rolf
1 Rezultatów
1
Hnatek, Eugene R.
1 Rezultatów
1
Huhn, Sebastian
1 Rezultatów
1
Reis, Ricardo A. L. (Ricardo Augusto da Luz)
1 Rezultatów
1
Saloma, Caesar A.
1 Rezultatów
1
Schmid, A.
1 Rezultatów
1
SpringerLink (Online service)
1 Rezultatów
1
Tarun, Alvarado B.
1 Rezultatów
1
Wirth, Gilson
1 Rezultatów
1
Zobacz wszystkie…
RESOURCE TYPE
Electronic Resource
2 Rezultatów
2
Artykuł
1 Rezultatów
1
Książka
1 Rezultatów
1
Praca dyplomowa
1 Rezultatów
1
LANGUAGE
English
5 Rezultatów
5
TUKLAS
: UP Libraries' Resource Discovery Tool
Copyright © 2020-2021. The University Library, University of the Philippines Diliman