Rezultaty 1 - 3 Rezultaty od 3 Dla wyszukiwania '"External testing."', Czas wyszukiwania: 0,02s Redukuj rezultaty
  1. 1

    Testing the monster chip. od Zorian, Y.

    Wydane w IEEE spectrum
    Artykuł

    Testing the monster chip.
  2. 2

    Weighted pseudorandom hybrid BIST. od Jas, A.

    Artykuł

    Weighted pseudorandom hybrid BIST.
  3. 3

    Test data compression technique for embedded cores using virtual scan chains. od Jas, A.

    Artykuł

    Test data compression technique for embedded cores using virtual scan chains.

Narzędzie wyszukiwania: