Toon 1 - 3 resultaten van 3 Voor zoekopdracht '"Test cost reduction."', zoektijd: 0,02s Verfijn jouw resultaten
  1. 1

    SOC test planning using virtual test access architectures. door Sehgal, A.

    Artikel

    SOC test planning using virtual test access architectures.
  2. 2

    Weighted pseudorandom hybrid BIST. door Jas, A.

    Artikel

    Weighted pseudorandom hybrid BIST.
  3. 3

    Low-power scan design using first-level supply gating. door Bhunia, S.

    Artikel

    Low-power scan design using first-level supply gating.

Zoekinstrumenten: