Toon 1 - 1 resultaten van 1 Voor zoekopdracht '"Low electron trap density."', zoektijd: 0,02s Verfijn jouw resultaten
  1. 1

    Study of trapping phenomenon in 4H-SiC MESFETs dependence on substrate purity. door Sghaier, N.

    Artikel

    Study of trapping phenomenon in 4H-SiC MESFETs dependence on substrate purity.

Zoekinstrumenten: