Toon 1 - 3 resultaten van 3 Voor zoekopdracht '"External testing."', zoektijd: 0,02s Verfijn jouw resultaten
  1. 1

    Testing the monster chip. door Zorian, Y.

    Gepubliceerd in IEEE spectrum
    Artikel

    Testing the monster chip.
  2. 2

    Weighted pseudorandom hybrid BIST. door Jas, A.

    Artikel

    Weighted pseudorandom hybrid BIST.
  3. 3

    Test data compression technique for embedded cores using virtual scan chains. door Jas, A.

    Artikel

    Test data compression technique for embedded cores using virtual scan chains.

Zoekinstrumenten: