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    Testing the monster chip. 著者: Zorian, Y.

    出版年 IEEE spectrum
    論文

    Testing the monster chip.
  2. 2

    Weighted pseudorandom hybrid BIST. 著者: Jas, A.

    論文

    Weighted pseudorandom hybrid BIST.
  3. 3

    Test data compression technique for embedded cores using virtual scan chains. 著者: Jas, A.

    論文

    Test data compression technique for embedded cores using virtual scan chains.

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