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New signal readout method for ultrahigh-sensitivity CMOS image sensor.
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Watabe, T.
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Dark current reduction in stacked-type CMOS-APS for charged particle imaging.
di
Takayanagi, I.
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Total dose and displacement damage effects in a radiation-hardened CMOS APS.
di
Bogaerts, J.
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Transversal-readout architecture for CMOS active pixel image sensors.
di
Miyatake, S.
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IEEE Transactions on electron devices
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Modeling of the bulk versus SOI CMOS performances for the optimal design of APS circuits in low-power low-voltage applications.
di
Afzalian, A.
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IEEE Transactions on electron devices
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Afzalian, A.
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Miyatake, S.
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Takayanagi, I.
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Watabe, T.
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