Prikaz rezultata 1 – 3 od 3 za pretragu '"External testing."', vrijeme upita: 0,02s Detaljiziraj rezultate
  1. 1

    Testing the monster chip. od Zorian, Y.

    Izdano u IEEE spectrum
    Članak

    Testing the monster chip.
  2. 2

    Weighted pseudorandom hybrid BIST. od Jas, A.

    Članak

    Weighted pseudorandom hybrid BIST.
  3. 3

    Test data compression technique for embedded cores using virtual scan chains. od Jas, A.

    Članak

    Test data compression technique for embedded cores using virtual scan chains.

Alati za pretragu: