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    SOC test planning using virtual test access architectures. द्वारा Sehgal, A.

    में प्रकाशित IEEE Transactions on VLSI systems
    लेख

    SOC test planning using virtual test access architectures.
  2. 2

    Weighted pseudorandom hybrid BIST. द्वारा Jas, A.

    में प्रकाशित IEEE Transactions on VLSI systems
    लेख

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  3. 3

    Low-power scan design using first-level supply gating. द्वारा Bhunia, S.

    में प्रकाशित IEEE Transactions on VLSI systems
    लेख

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