Showing 1 - 3 results of 3 for search '"External testing."', זמן שאילתה: 0.02s Refine Results
  1. 1

    Testing the monster chip. מאת Zorian, Y.

    הוצא לאור ב IEEE spectrum
    Article

    Testing the monster chip.
  2. 2

    Weighted pseudorandom hybrid BIST. מאת Jas, A.

    הוצא לאור ב IEEE Transactions on VLSI systems
    Article

    Weighted pseudorandom hybrid BIST.
  3. 3

    Test data compression technique for embedded cores using virtual scan chains. מאת Jas, A.

    הוצא לאור ב IEEE Transactions on VLSI systems
    Article

    Test data compression technique for embedded cores using virtual scan chains.

כלי חיפוש: