Résultat(s) 1 - 3 résultats de 3 pour la requête '"External testing."', Temps de recherche: 0,02s Affiner les résultats
  1. 1

    Testing the monster chip. par Zorian, Y.

    Publié dans IEEE spectrum
    Article

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  2. 2

    Weighted pseudorandom hybrid BIST. par Jas, A.

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  3. 3

    Test data compression technique for embedded cores using virtual scan chains. par Jas, A.

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