Näytetään 1 - 3 yhteensä 3 tuloksesta haulle '"Test cost reduction."', hakuaika: 0,01s Tarkenna hakua
  1. 1

    SOC test planning using virtual test access architectures. Tekijä Sehgal, A.

    Artikkeli

    SOC test planning using virtual test access architectures.
  2. 2

    Weighted pseudorandom hybrid BIST. Tekijä Jas, A.

    Artikkeli

    Weighted pseudorandom hybrid BIST.
  3. 3

    Low-power scan design using first-level supply gating. Tekijä Bhunia, S.

    Artikkeli

    Low-power scan design using first-level supply gating.

Työkalut: