Näytetään 1 - 3 yhteensä 3 tuloksesta haulle '"External testing."', hakuaika: 0,02s Tarkenna hakua
  1. 1

    Testing the monster chip. Tekijä Zorian, Y.

    Julkaisussa IEEE spectrum
    Artikkeli

    Testing the monster chip.
  2. 2

    Weighted pseudorandom hybrid BIST. Tekijä Jas, A.

    Artikkeli

    Weighted pseudorandom hybrid BIST.
  3. 3

    Test data compression technique for embedded cores using virtual scan chains. Tekijä Jas, A.

    Artikkeli

    Test data compression technique for embedded cores using virtual scan chains.

Työkalut: